芯片推力測(cè)試儀?采用電腦控制，實(shí)時(shí)顯示推、拉力，可記錄推、拉力值以及推、拉力平均值，并由試驗(yàn)機(jī)軟件導(dǎo)出實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
芯片推力測(cè)試儀采用單立柱主體結(jié)構(gòu)，廣泛適用于金屬合金、非金屬材料試樣的拉伸、壓縮、彎曲、剪切、剝離、撕裂等試驗(yàn)，以及一些產(chǎn)品的特殊試驗(yàn)?？煽啃愿撸⑶胰菀撞僮?，同時(shí)滿足GB、ISO、JIS、ASTM、DIN等多種標(biāo)準(zhǔn)要求，并可根據(jù)用戶需求編輯試驗(yàn)軟件，定制試驗(yàn)附具，是各類產(chǎn)品和材料制造商、高等院校、科研單位和各級(jí)產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督部門*的精密儀器。
芯片推力測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：
1. 產(chǎn)品規(guī)格：MX-0230
2． 等級(jí)： 0.5級(jí)
3． 負(fù)荷： 2000N
4． 有效測(cè)力范圍：0.1/100-99.9899%;
5． 試驗(yàn)力分辨率，負(fù)荷±500000碼；內(nèi)外不分檔，且全程分辨率不變。
6． 有效試驗(yàn)寬度：120mm
7． 有效試驗(yàn)空間：300mm
8． 試驗(yàn)速度:：0.001~500mm/min(任意調(diào))
9. 速度精度：示值的±0.5以內(nèi)；
10．位移測(cè)量精度：示值的±0.5以內(nèi)；
11．變形測(cè)量精度：示值的±0.5以內(nèi)；
12．應(yīng)力控速率范圍： 0.005～6FS/S
13．應(yīng)力控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時(shí)，為設(shè)定值的±1%以內(nèi)；速率≥0.05％FS/S時(shí)，為設(shè)定值的±0.5%以內(nèi)；
14．應(yīng)變控速率范圍： 0.002%～6％FS/S
15．應(yīng)變控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時(shí)，為設(shè)定值的±2%以內(nèi)；速率≥0.05％FS/S時(shí)，為設(shè)定值的±0.5%以內(nèi)；
16. 恒力/位移/變形測(cè)量范圍：0.5％～99.999％FS
17．恒力/位移/變形測(cè)量精度：設(shè)定值＜10％FS時(shí), 為設(shè)定值的±1%以內(nèi)； 設(shè)定值≥10％FS時(shí), 為設(shè)定值的±0.1%以內(nèi)；
18．試臺(tái)升降裝置：快/慢兩種速度控制，可點(diǎn)動(dòng)；
19．試臺(tái)安全裝置：電子限位保護(hù)
20．試臺(tái)返回：手動(dòng)可以速度返回試驗(yàn)初始位置，自動(dòng)可在試驗(yàn)結(jié)束后自動(dòng)返回；
21．試驗(yàn)定時(shí)間自動(dòng)停車,試驗(yàn)定變形自動(dòng)停車,試驗(yàn)定負(fù)荷自動(dòng)停車
22．超載保護(hù)：超過(guò)負(fù)荷10時(shí)自動(dòng)保護(hù)；
23. 自動(dòng)診斷功能，定時(shí)對(duì)測(cè)量系統(tǒng)、驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)進(jìn)行過(guò)載、過(guò)壓、過(guò)流、超負(fù)荷等檢查，出現(xiàn)異常情況立即進(jìn)行保護(hù)
23．電源功率： 400W
24．主機(jī)重量： 40kg
25. 電源電壓: 220V（單相）
0513-81526002
0513-81526001
18851312788
